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JPK Instruments erweitert
Produktpalette für kombinierte Rasterkraft- und Fluoreszenzmikroskopie
— 24. Juni 2004
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Mit der Option auf eine Infrarot-Lichtquelle vervollständigt
JPK Instruments seine Produktpalette für den kombinierten
Einsatz von Rasterkraft- und Fluoreszenzmikroskopie-Techniken.
In konventionellen Rasterkraftmikroskopen werden rote Laserlichtquellen
eingesetzt, um die Kräfte, die auf die Spitze wirken, zu
vermessen. Durch Streulicht dieser Lichtquelle kann es zu Beeinträchtigungen
kommen, wenn an der Probe gleichzeitig Fluoreszenzmessungen wie
FRET, TIRF, LSM oder andere Techniken im roten Wellenlängenbereich
vorgenommen werden sollen. Um dieses Problem zu umgehen, wurde
ein neuer Detektionsweg, mit einer neuen Lichtquelle unter der
Verwendung eines Infrarot-Lasers von 850nm Wellenlänge, entwickelt.
Durch Spektralfilter kann dieses Licht nun einfach aus dem Strahlengang
des Fluoreszenzmikroskopes herausgefiltert werden.
Zusätzlich werden durch die neuartige Technik die Interferenzprobleme
behoben, die bei konventionellen Rasterkraftmikroskopen auftreten.
Das wirkt sich insbesondere günstig aus bei der Untersuchung
der Entfaltung, Dehnung, Adhäsion oder Elastizität von
Molekülen oder bei Messungen der Zelladhäsion.
Durch die hohe Auflösung (atomare Gitterauflösung)
und die temperierbare Flüssigkeitszelle BioCell™ stellt
das NanoWizard® Rasterkraftsystem nun eine Komplettlösung
für die kombinierte Rasterkraft- und Fluoreszenzmikroskopie
zur Einzelmolekül- und Zellbeobachtung dar.
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