JPK Pressemeldung

Dass zwei der wichtigsten Meetings der Nanowissenschaft - die STM'06 und die Nano9 - 2006 in der ICN&T2006 (International Conference on NanoScience and Technology) zusammengelegt wurden und dass dieser Event ausgerechnet in der Schweiz stattfand, kommt nicht von ungefähr. 2006 ist das 20. Jahr seit der Erfindung des Rasterkraftmikroskops (engl. Atomic Force Microscope - AFM) und das Rastertunnelmikroskop feiert sogar sein 25. Jubiläum. Beides Erfindungen mit Schweizer Wurzeln.

Für das Berliner NanoBiotechnologie Unternehmen JPK Instruments AG war die Jubiläumsveranstaltung in Basel ein ebenso willkommener wie angemessener Rahmen, um NanoWizard®II - das Nachfolgesystem des führenden BioAFMs - der Öffentlichkeit vorzustellen. Die bedeutende Innovation für die Life Science AFM Community wurde am 31. Juli unter großer Beteiligung der maßgeblichen Wissenschaftler feierlich enthüllt.

NanoWizard®II markiert die neue technologische Spitze für Anwendungen wie High Resolution Imaging, Kraftspektroskopie oder Manipulation auf nm-Ebene. Das anspruchsvolle Forschungsinstrument ist das Ergebnis der konsequenten Weiterentwicklung bewährter Stärken. "Wie bei NanoWizard® steht für uns auch bei NanoWizard®II die kompromisslose Integration von Rasterkraftmikroskopie und inverser optischer Mikroskopie im Vordergrund", so Torsten Jähnke, CTO bei JPK. "Wir haben entscheidend daran gearbeitet, das neue AFM noch stärker auf die speziellen Anforderungen unterschiedlichster Life Science Applikationen auszurichten."

Die jahrelangen Erfahrungen von JPK in BioNano Anwendungen, die enge Einbeziehung von Kundenwünschen und das aufwändige Engineering haben sich gelohnt. NanoWizard®II ist mit vielen innovativen Features, mit weit erhöhter Stabilität und einer neuen Systemperformance das derzeit wohl leistungsfähigste Forschungswerkzeug für Soft Matter und Life Science Anwendungen.

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